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納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述:納米粒度及Zeta電位分析儀BeNano 180 Zeta Max 是最新推出的表征納米體系特性的頂級光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態光散射SLS以及透射光檢測技術,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等

基礎信息

產品型號

BeNano 180 Zeta Max

廠商性質

代理商

更新時間

2025-04-08

瀏覽次數

233
詳細介紹
品牌Bettersize/百特價格區間10萬-30萬
產地類別國產應用領域綜合

納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標


粒徑檢測(動態光散射法)

  粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
  最小樣品量  3 μL
  檢測角度  173 °+90 ° + 11.2°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

沉降法粒度測試

  檢測方法  沉降法
  粒徑范圍  1μm-50μm
  檢測角度  0°
  樣品量  1-3ml

Zate電位測試

  Zeta范圍  無實際限制
  電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
  電導率范圍  0 - ≥270 mS/cm
  Zeta測試粒徑范圍  1 nm – >120 μm  

分子量測試

  分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

微流變測試

  測試能力  均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

趨勢測試

  模式  時間和溫度

濃度檢測

  檢測方法  LEDLS
  測試能力  體積分數和數量濃度

折光率測試

  檢測方法  楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)
  檢測角度  0°
  RI范圍  1.2-1.6
  精度  優于0.1%
  最小樣品量  380 μL

系統參數

  溫控范圍  -15°C - 120°C
  冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
  激光器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm(不同波長激光器可選)
  相關器  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍
  檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
  光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    



納米粒度及Zeta電位分析儀檢測參數


動態光散射

●流體力學尺寸 Dh

●分布系數 PD.I

●擴散系數 D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

●計算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學信息G*,G‘,G“,η*,J


電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率


透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測試


趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態光散射

● 絕對分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數A2



選配件


動靜態流動模式

BeNano動靜態流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

 

納米粒度及Zeta電位分析儀 


BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環境具有強烈的依賴性,尤其是環境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險。

 

納米粒度及Zeta電位分析儀             


BeScan穩定性分析儀

BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

 

 納米粒度及Zeta電位分析儀


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